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外観検査AIのデモを無償公開 データ数枚でも高精度

外観検査AIソリューションの異常検知技術を手軽に体験できる、外観検査AIのデモサイトを一般公開いたしました。


■サマリー

  • 外観検査AIデモを一般公開

  • 任意の画像をアップロードして異常検知AIを体験

  • 少量の良品画像と評価用画像のみで異常の検出を実現


◾️外観検査AIデモの概要

外観検査AIデモは、NABLASが提供する製造業向け外観検査AIソリューションを簡易的に体験できるデモです。


従来の外観検査AIでは大量の不良品データを必要とし、データの収集や整理、分類などの作業にも多大な時間と手間が発生し、導入の大きなハードルとなっていました。当社の外観検査AIソリューションでは、ごくわずかな良品画像と評価用画像があれば異常の可視化検出ができるため、大量のデータ蓄積や不良品データの準備がない場合でも外観検査AIを導入していただけます。


デモでは、製造部品や食品などを合わせた計7種類の異常検知サンプルを用意し、ヒートマップにより異常検出箇所を可視化いたします。少量の良品画像と評価用画像があれば、任意の画像でも異常の可視化検出を体験していただけます。


登録不要でデモをご利用いただけます。

スクリューとビスケットの異常検知を可視化したヒートマップ画像
外観検査AIでの異常検知を可視化したヒートマップ

NABLASでは外観検査AIや異常検知AIについて、少量の良品画像をお送りいただければ無償で、すぐに簡易PoCをさせていただきます。

ご相談は随時受け付けております。お気軽にお問い合わせ下さい。


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